Mikroskopie atomárních sil – AFM (Atomic Force Microscopy) je jednou z technik Mikroskopie skenující (rastrující) sondou, používaných k zobrazování struktury povrchů. Je založena na mapování rozložených atomárních sil na povrchu zkoumaného vzorku. AFM poskytuje věrný topografický trojrozměrný obraz povrchu s rozlišením až atomárním. Kromě fyziky a chemie povrchů je metoda použitelná i v biologických oborech. Speciální úprava skeneru AFM umožňuje sledovat biologické vzorky v kapalných prostředcích. Tím se lze vyhnout celé řadě artefaktů způsobených dehydratací. Je známo, že dentin lidských zubů je excesivně citlivý na odvodnění a vysušení, které je používáno při standardní přípravě vzorků pro vyšetření v SEM (Scanning Electron Microscopy). V této práci popisujeme naše zkušenosti s vyšetřením dentinového povrchu extrahovaných třetích molárů s pomocí AFM za vlhkých podmínek.

        Klíčová slova: Mikroskopie atomárních sil (AFM) – dentin – smear layer