Rezonanční frekvenční analýza dentálních implantátů zavedených do sinus liftu:
I. a II. chirurgická fáze
Somanathan R. V.1, Šimůnek A.1, Bukač J.2, Brázda T.1, Kopecká D.1
1Department of Dentistry, Charles University in Prague, Faculty of Medicine in Hradec Králové, Head of the department doc. MUDr. V. Hubková, CSc. 2Department of Biophysics, Charles University in Prague, Faculty of Medicine in Hradec Králové, Head of the department prof. MUDr. P. Stránský, CSc. |
|
Souhrn:
Měření primární stability dentálních implantátů rezonanční frekvenční analýzou je spolehlivá
a vědecky ověřená metoda. Zdá se, že vyšší hodnoty ukazují na lepší stabilitu, a tím i lepší prognózu implantátu.
Toto pravidlo by mohlo platit i u implantátů v sinus liftu. Předkládaná studie dokazuje, že pokud má implantát
v sinus liftu primárně nižší hodnoty ISQ, během vhojování implantátu se tyto hodnoty zvyšují. Naopak primární
stabilita implantátů s vysokými počátečními hodnotami ISQ se během vhojování oslabuje. Z toho vyplývá, že
sekundární stabilita implantátu přímo nezávisí na primární stabilitě.
Klíčová slova:
sinus lift - rezonanční frekvenční analýza - hodnoty ISQ - stabilita implantátu
|
