Na úvodní stránku ČLS JEP ČESKÁ LÉKAŘSKÁ SPOLEČNOST J. Ev. PURKYNĚ
Časopisy - Článek
Na úvodní stránku ČLS JEP Aktuality O Společnosti O nakladatelském středisku Časopisy Vyhledávání Knihy Supplementa Katalog
 
  Anglicky / English version Čes. Stomat., roč. 104, 2004, č. 3, s. 180–185.
 
AFM vyšetření dentinového povrchu (Naše zkušenosti) 
Zapletalová Z.1, Kubínek R.2, Vůjtek M.2 

1I. stomatologická klinika LF UP a FN Olomouc, přednostka doc. MUDr. J. Stejskalová, CSc.2Katedra experimentální fyziky PřF UP, Olomouc, vedoucí katedry doc. RNDr. R. Kubínek, CSc.
 


Souhrn:

       Mikroskopie atomárních sil – AFM (Atomic Force Microscopy) je jednou z technik Mikroskopie skenující (rastrující) sondou, používaných k zobrazování struktury povrchů. Je založena na mapování rozložených atomárních sil na povrchu zkoumaného vzorku. AFM poskytuje věrný topografický trojrozměrný obraz povrchu s rozlišením až atomárním. Kromě fyziky a chemie povrchů je metoda použitelná i v biologických oborech. Speciální úprava skeneru AFM umožňuje sledovat biologické vzorky v kapalných prostředcích. Tím se lze vyhnout celé řadě artefaktů způsobených dehydratací. Je známo, že dentin lidských zubů je excesivně citlivý na odvodnění a vysušení, které je používáno při standardní přípravě vzorků pro vyšetření v SEM (Scanning Electron Microscopy). V této práci popisujeme naše zkušenosti s vyšetřením dentinového povrchu extrahovaných třetích molárů s pomocí AFM za vlhkých podmínek.

        Klíčová slova: Mikroskopie atomárních sil (AFM) – dentin – smear layer
       

Objednat toto číslo jako - FYZICKÁ OSOBA nebo PODNIKATELSKÝ SUBJEKT

  ZPĚT NA OBSAH  
 
 
| HOME PAGE | KÓDOVÁNÍ ČEŠTINY | ENGLISH VERSION |
©  1998 - 2008 ČESKÁ LÉKAŘSKÁ SPOLEČNOST J. E. PURKYNĚ
Výroba: NT Servis, s.r.o., provozovatel serveru P.E.S. consulting, s.r.o.
WEBMASTER